Atotech hat zuverlässige Lösungen für die Produktion von Microvia Leiterplatten durch chemisch Kupfer- oder Direktmetallisierungverfahren in Vertikal- oder...
Archiv Oktober 2000
Der Forderung nach immer kleineren und leichteren Produkten höherer Funktionalität und geringerem Preis führt zu dichter integrierten und komplexeren...
Mit dem Scan-Trainer-Board von Göpel lassen sich die typischen Boundary-Scan-Applikationen (BS) üben. Dazu gehört neben Test auch die...
LabView 6i von National Instruments bietet eine schnelle Anbindung ans Internet. In dieser Version steht den Anwendern der neue LabView Player zur Verfügung...
Von Prime Yield Systems/ Everett Charles kommt eine Universalsockel-Familie für BGAs, die im Standard-Layout rekonfigurierbar ist. Die Sockel sind kurzfristig...
Straschu hat einen modularen Universaltester für Baugruppen entwickelt, der aus einem Tester mit modularer Versorgungseinheit, einer prüflingsspezifischer...
Die Testhandler J411-02 und J411-03 von JOT wurden zur Leiterplatten- sowie RF/Displayprüfung für Mobilfunkhersteller entwickelt. Das Ziel war, eine Lösung...
Im 14-Slot-Chassis von PXInstrument (Vertreib Meilhaus) können Anwender/ Systemintegratoren ein Maximum an Einsteckkarten unterbringen, so daß Prüfsysteme...
Teradyne hat mit der Optima 7300 die nächste Generation von automatischen optischen Inspektionssystemen für den Post-Reflow-Einsatz vorgestellt. Die Serie...
Das automatische High-Speed AXI-System von CR Technology inspiziert komplexe, BGA-bestückte Baugruppen, die visuell oder elektrisch nicht mehr ausreichend...
