Für das Charakterisie-ren von Laser-Dioden in Chip-/Zeilenform oder in fertigen Modulen wur-de das Pulsed-Laser-Dio-de-Test-System 2520 von Keithley...
Archiv Dezember 2001
Die modularen Digital-Analog-Tester DAT500 von Dr. Eschke Elektronik sind für den parametrischen Funktionstest von Baugruppen, ICs, ASICs und FPGAs...
Der portable Spektrumanalyser 2399 von IFR ist jetzt durch die Software Easyspan auch mit Fernbedienungs- und Ferndiagnose-Fähigkeiten erhältlich. Das...
Das TV-Zoom-Mikroskop von Opto Sonderbedarf mit Schräg-sichtansatz wurde speziell für die Qualitätskontrolle von Baugruppen entwickelt. Mit dem Gerät...
Mit den Mikrowellen-Generatoren der PSG-Serie (Performance Signal Generator) können nach Angaben von Agilent bei der Herstellung drahtlo-ser...
Das vollautomatisches Prüf-system für Drehfeldsteller EE/Feldsteller/V1.1 von ET-Testsysteme wurde speziell für den Funktions- und Run-In-Test von...
Der in-line-fähige Hochtem-peratur-Tester Hottest von IPTE vereint Wärmequelle, Leiterplatten-Transport und Testeinrichtung. Optional sind zwei...
Göpel bringt mit dem BSDL-Testwriter das erste Mitglied einer Familie von EDA-Tools für Boundary-Scan/IEEE-1149.1auf den Markt, das im Rahmen der Kooperation...
Die Prüf-Plattform Test-Stand 2.0 von National Instruments ermöglicht es, mehrere Prüfschritte automatisch parallel durchführen zu lassen, wobei der...
Mit dem Optima 7350 hat Teradyne ein Post-Solder-AOI-Sys-tem vorgestellt, das das Überprüfen von Lötstellen nach dem Bottom-side-Konzept erlaubt. Damit ist...
