Speziell für den Einsatz im InCircuit-Test von bestückten Leiterplatten ist der Boardhandler TCIL-SH von Rohwedder Pematech, eine Brückenkontruktion mit...
Archiv August 2005
Reinhardt hat seinen elektronischen Bauteilzähler ZE 260 vorgestellt, der mikroprozessorgesteuert ist, vorwärts wie auch rückwärts zählen kann, und selbst...
Das AOI-System VT-RNS von Omron Electronics ist in unterschiedlichen Konfigurationen verfügbar, so für Inspektionen nach dem Pastendruck (Post-Print), nach...
Das optische Inspektionssystem modus AOI von modus High-tech arbeitet mit einer Scannereinheit, deren Sensor aus einer CCD-Zeile mit RGB-Farbfilter besteht...
Die Röntgeninspektionssysteme der MXR-Serie von Macrotron erhalten zusätzlich einen X-Ray Navigator. Die Technologie stellt automatisch layout-ähnliche...
Keithley stellt mit dem S510 Semiconductor Reliability Test System eine Lösung mit hoher Kanalzahl für Zuverlässigkeitstest und die Modellierung der...
Der ANT Test Handler von IPTE ist ein universeller, manueller Test Handler, wo in einem kompakten Gehäuse InCircuit-Test, Funktionstest oder kombinierte...
Die Familie der Hochleistungs-Framegrabber MVS-8600 von Cognex unterstützen den Standard Camera Link und die Bilderfassung bis 12 Bit Grauwertauflösung...
Nicht nur gefederte Kontaktstifte und kundenspezifische Prüfadapter von Ingun gewährleisten ein perfektes Prüfergebnis beim Test von bestückten...
Der Trend zum Arbeiten an immer kleineren Objekten ist auch in der industriellen Mikrotechnik unverkennbar. Lupen mit ihrer eindimensionalen Sicht sind oft...
