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Den fehlerfreien Produkten näher

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Den fehlerfreien Produkten näher

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Kuttig erweitert Testabdeckung
Kuttig Electronic erweitert sein Prüffeld um einen hochflexiblen Flying Probe Tester (FPT). Damit ist ein Incircuit-Test auch schon bei kleineren Losgrößen wirtschaftlich einsetzbar. Gegenüber einem klassischen ICT-Tester mit einem starren Nadelbettadapter werden die Bewegungen der Nadeln beim FPT frei programmiert. Er ist damit enorm flexibel einsetzbar, was bei der Low Volume-High Mix-Fertigung des Unternehmens besonders wichtig ist. „Durch die Investition in den Flying Probe Tester Spea 4060IL sind wir unserem Ziel wieder ein ganzes Stück näher gekommen. Damit sind wir in der Lage, eine Flachbaugruppe elektrisch zu prüfen, ohne dass wir die Funktion der Baugruppe kennen müssen. Unabhängig von der Anwendung werden elektrische Messungen zwischen den Netzen durchgeführt, sodass nicht nur die Verbindungen geprüft werden, sondern auch die Charakteristika der Bauteile“, betont der Geschäftsführer Michael Kuttig.

Neben den klassischen Methoden, wie Open- und Short-Tests, sowie der Messung von Widerständen, Dioden, Kapazitäten und Induktivitäten, werden mit Elektro-Scan auch Feldstärken gemessen. Dies ermöglicht, Verbindungen zu Stecker-Pins und BGAs nachzuweisen. Zusätzlich können einfache Funktionstests, wie z.B. die Messung von Versorgungsspannungen oder Frequenzen, ausgeführt werden. Die Kombination mit Boundary Scan ist problemlos. Insgesamt sieht man die Vorteile dieser Investition in der Steigerung der Anlieferqualität, der Erhöhung der Testabdeckung, in geringeren Einmalkosten als beim ICT sowie der Reduzierung der Funktionstestkosten. „In der Kombination von FPT und AOI erreichen wir eine Testabdeckung, die dem Wunsch der fehlerfreien Produkte schon sehr nahe kommt.“
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