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Einfache Testlösung zum Auffinden von Relaisfehlern

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Einfache Testlösung zum Auffinden von Relaisfehlern

Pickering Interfaces, Hersteller von Signalschalt- und Konditionierungslösungen, hat heute eine verbesserte Version seiner PXI Reed Relais Matrix mit hoher Anzahl von Kreuzungspunkten vorgestellt.

Die neue PXI Matrix 40–533B ist entweder in 64×4 oder 64×2 Konfiguration erhältlich und besitzt folgende Eigenschaften:
  • 1 polig oder 2 polig
  • Heißes Schalten bis zu 1A 150VDC/100VAC 15W
  • Eingebauter Relaisselbsttest –Birst sowie Unterstützung durch Pickerings neues Diagnosewerkzeug -eBirst
Die Version ist mit dem Vorgängertyp 40–533A 100% Stecker kompatibel. Sie bietet verbesserte Eigenschaften bei heißem Schalten im Bereich von 0,5 A bis 1 A, zusätzliche 64×2 Konfigurationen und einen eingebauten Relaisselbsttest Birst.
Birst bietet eine schnelle und einfache Testmöglichkeit, um Relaisfehler auf der Karte zu lokalisieren. Zur Ausführung wird keine zusätzliche externe Instrumentierung benötigt: einfach den Prüfling am Stecker von der Schaltkarte trennen, das mitgelieferte Programm starten und das Onboard Testwerkzeug diagnostiziert alle Relais mit verklebten Kontakten oder hohem Übergangswiderstand. Die Lösung vereinfacht die Diagnose von Schaltfehlern während der Systeminbetriebnahme.
Alternativ wird diese Reed Relais Matrix auch von eBirst, dem neuen Testwerkzeug für Schaltmodule unterstützt. Die Familie universeller, externer Testwerkzeuge vereinfacht das Auffinden von Defekten in Pickering Schaltmodulen Die durch den Test erkannten Relais werden in einer grafischen Darstellung der Leiterplatte hervorgehoben angezeigt.
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