Erfassung und Erkennung in Farbe

Das optische Inspektionssystem modus AOI von modus High-tech arbeitet mit einer Scannereinheit, deren Sensor aus einer CCD-Zeile mit RGB-Farbfilter besteht. Die Abtasteinheit erfasst die bestückte Leiterplatte vollflächig, die Prüfzeit ist weitgehend unabhängig von der zu kontrollierenden Anzahl der Bauteile. Durch eine Erfassung und Auswertung in Farbe ist eine hohe Erkennungssicherheit der falsch bestückten Bauteilen gewährleistet. Zur Erstellung eines Referenzbildes wird eine Muster-Leiterplatte eingelernt, die Prüfplanerstellung für die Kontrolle erfolgt durch die Nutzung einer Bibliothek auf der Basis der CAD- oder Bestückungsdaten. Ein Prüfplaneditor ermöglicht Ergänzungen nach Bedarf. Die ermittelte Form und Lage eines jeden Prüfobjekts wird mit den Sollwerten verglichen. Über die Vektorisierung wird Position und Rotation sowie Vorhandensein und Vertauschung von Bauelementen erkannt. Im Fehlerfall werden Original- und Referenzbild vergrößert dargestellt, und die Position markiert. Die Statistik ist jederzeit verfügbar und zeigt dem Anwender Abweichungen der einzelnen Messwerte. Die Messzeit beträgt bei einer Printfläche von 185 mm x 165 mm und einer Auflösung von 600 dpi unabhängig von der Bauteilanzahl 12 s. Das Inspektionssystem ist optimiert für die Bestückungskontrolle von SMD-, Chip- und konventionellen Bauelementen vor dem Lötprozess. Die Software ermöglicht durch schnelle Programmierung der Testfelder die Prüfungen von nahezu beliebigen Testobjekten, ob LCD-Flächen oder mechanische Bauteile.

EPP 458