Nichimen hat mit dem Hi-oki 1117 X-Y Board Hites-ter einen Flying-Probe-Tester mit jeweils zwei Prüfköp-fen für die Ober- und Unterseite der Leiterplatte vorgestellt, wodurch eine simultane beidseitige Messung möglich ist. Neben der Feststellung von Leiterbahnen-Unterbrechungen und Kurzschlüssen mittels Kapazitäts-Messverfahren ist das Ge-rät dafür ausgelegt, Widerstände von Micro-Vias, eingebetteten Micro-Vias und Durchkontaktierungen bis in den Mikroohm-Bereich genau vermessen zu können. Um den störenden Einfluss von Leitungs- und Kontaktwiderständen zu eliminieren, wird ein Vierpol-Messverfahren eingesetzt. Die gemessenen Widerstände liefern Aussagen über die Qualität der Micro-Vias, die durch Rückstände oder unzureichenden Kontakt zwischen zwei Lagen beeinträchtigt werden können. Mit dem Tester lassen sich außerdem Widerstände, Kapazitäten, Dioden, Zener-Dioden, Transistoren und Optokoppler prüfen.
EPP 219
Unsere Webinar-Empfehlung
10.10.22 | 10:00 Uhr | Conformal Coating ist ein wichtiges Verfahren, um elektronische Baugruppen vor dem vorzeitigen Ausfall zu schützen. Damit bekommt der Beschichtungsprozess eine immer höhere Bedeutung. Dabei ist die Auftragsstärke ein wichtiges Qualitätskriterium. Nur eine…
Teilen:
