Advantest Corporation, weltweiter Anbieter von automatischen Testsystemen (ATE) für die Halbleiterindustrie meldet, dass ein weltweit führender Hersteller von integrierten Halbleiterprodukten für die Computer- und Kommunikationstechnik, das tausendste T2000 Testsystem erhalten hat. Das System wird wie alle anderen weltweit bei diesem Kunden installierten T2000 Systeme in der Serienfertigung von CPUs und SoC-Bauteilen eingesetzt. Die T2000 Testplattform ermöglicht durch den Einsatz mehrerer Tester-Controller, einer speziellen instrumentenbasierenden Architektur und eines großen Load-Boards einen Test mit höchster Parallelität. Dadurch lässt sich die Time-to-Volume für unterschiedlichste SoC-Bauteile, wie Grafikprozessoren, MCUs, RF SoCs, RF Mobilfunk, Basisband, Powermanagement und Audio/Video-Bauteile, deutlich verkürzen. Das Testsystem wurde speziell im Hinblick auf die einzigartigen Anforderungen der heutigen komplexen Mikroprozessoren, sowie Consumer- und Wireless-Bauteile entwickelt. Es zeichnet sich dabei durch multifunktionelle Analog-, DC- und RF-Instrumente mit hoher Kanaldichte sowie eine Skalierbarkeit für die Testanforderungen von einfachen bis hin zu sehr leistungsfähigen SoC-Bauteilen bei gleichzeitig niedrigsten Testkosten branchenweit aus. Eine weltweit zunehmende Zahl von IDMs, sowie Fabless- und OSAT-Unternehmen hat erkannt, dass sich mit der T2000 Plattform eine hohe Produktivität und Effizienz sicherstellen lässt. Das im Jahr 2003 erstmals vorgestellte T2000 Test System ist mittlerweile bei 55 verschiedenen Kunden weltweit im Einsatz und dort voll in die Entwicklung und Fertigung modernster Halbleiter eingebunden.
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