Zweistufen-Kontaktierungen werden üblicherweise verwendet, um InCircuit-Test und Funktionstest nacheinander im gleichen Prüfadapter durchzuführen. Für den InCircuit-Test kontaktieren zunächst alle Kontaktstifte den Prüfling. Im darauf folgenden Funktionstest hat der Adapter einen um einige Millimeter reduzierten Hub, so dass nur die für den Funktionstest relevanten Langhub-Stifte auf den Prüfling treffen. Diese Technik ist für die Kontaktierung von der Unterseite eines Prüflings bereits etabliert. Feinmetall hat jetzt einen Adapter entwickelt, der eine solche Zweistufen-Kontaktierung auch von der Oberseite ermöglicht. Mit dieser Lösung sind Kunden flexibler im Leiterplatten-Design und sparen sich durch den Wegfall eines separaten Funktionstest-Adapters Zeit und Kosten. Realisiert wurde die mechanisch anspruchsvolle Zweistufen-Oberkontaktierung unter anderem durch ein cleveres Design der Verschiebeplatten. So sind trotz des sehr geringen Platzangebotes die notwendigen Hubunterschiede möglich.
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