TAP-Zugriff über größere Distanzen

Göpel electronic stellte einen weiteren low cost Controller im Rahmen der ScanBooster-Familie vor. Der Controller basiert auf einem USB2.0-Interface und ergänzt das bereits vorhandene Produktspektrum um eine Lösung mit extern angekoppelten Testköpfen. Dadurch wird das Problem kritischer TAP-Zugriffe in ATE-Fixtures und HASS/HALT-Applikationen gelöst. JTAG/Boundary-Scan-Test, PLD Programmierung und In-System-Programmierung von Flash mit moderater Größe können über längere Distanzen sicher ausgeführt werden. Der ScanBooster/USB-FXT verfügt über zwei separate TAPs und unterstützt eine programmierbare TCK-Frequenz von maximal 16 MHz. Durch die extern angekoppelten TAP Interface Cards (TIC) erlangt der Controller eine Flexibilität und Funktionssicherheit über Entfernungen von bis zu 4 m zur Unit Under Test. Derzeit stehen verschiedene TIC für Standardapplikationen sowie zum Einbau in Klimakammern für HASS/HALT-Applikationen zur Verfügung. Die TIC ermöglichen auch die Anpassung des TAP Interfaces an spezifische Signalkonditionierung des Prüflings durch Parametrisierung und die vollständige elektrische Isolation von der UUT durch Relais. Als zusätzliche Ressourcen bietet der Controller 32 spannungsprogrammierbare, dynamische Parallel I/O, zwei ADC/DAC-Kanäle, externe Triggersignale sowie drei statische I/O, wodurch er für erweiterte Test- und PLD/Flash-Programmieroperationen eingesetzt werden kann. Auf seiner Basis entwickelte Programme sind ohne Re-Kompilation crosskompatibel auf jedem anderen Controller der ScanBooster-Serie oder der Scanflex Boundary-Scan-Plattform ablauffähig.

EPP 449