Technologie-Roadshow vor Ort zu JTAG/Boundary Scan

Unter der Bezeichnung „Boundary Scan on Tour“ führt Göpel electronic zum fünften Mal eine deutschlandweite Roadshow zur JTAG/Boundary Scan Technologie gemäß Standard IEEE 1149.x durch. Vom 27. Juni bis 08. Juli 2011 haben Interessenten dabei sowohl die Möglichkeit, sich über die Theorie der Test-, Programmier- und Emulationsmethodik zu informieren, als auch Praxisinformationen und Applikationsbeispiele aus erster Hand zu erhalten. Folgende Termine und Orte sind geplant:

Die Veranstaltungen finden jeweils Dienstags bis Freitags von 9 bis 13 Uhr sowie Montags von 13 bis 17 Uhr statt. Sie vermitteln generelle Informationen zur JTAG/Boundary Scan Technologie, dokumentieren Einsatzgebiete und Kombinationsmöglichkeiten mit anderen Testverfahren und arbeiten dabei Anwendervorteile heraus. Erfahrene Mitarbeiter des Unternehmens demonstrieren dabei, wie mittels JTAG/Boundary Scan bei minimalem Aufwand die größtmögliche Testabdeckung erreicht werden kann. Während der Veranstaltungen stehen Applikationsingenieure ständig für individuelle Diskussionen und Fragen zur Verfügung. Die Roadshow ist nicht als Werbe-Event konzipiert, sondern als Plattform zur Informationsbeschaffung und -bereitstellung über das derzeit innovativste Verfahren zum Testen, Programmieren, Verifizieren und Emulieren auf Chip-, Board- und Systemebene.

Die Teilnahme an den jeweiligen Veranstaltungen ist kostenfrei. Interessenten können sich bei Frau Claudia Mock per Email unter c.mock@goepel.com oder telefonisch unter 03641–6896–763 anmelden. Außerdem besteht die Möglichkeit der Online-Registrierung.