Auch in diesem Jahr waren die beiden CK-Technologietage am 29. Februar sowie 1. März 2012 bei der Christian Koenen GmbH in Ottobrunn ein voller Erfolg. Kunden, Interessenten und Partner hatten die Möglichkeit sich umfassend über die neue Produktserie M-TeCK zu informieren, welche neue Perspektiven in der Schablonentechnik bietet. Die Produktreihe umfasst Schablonen für den Fineline-, Rahmen- und Flächendruck, sowie Spezialrakel und Reinigungsprozesse. Interessant ist die Produktreihe für den Einsatz im Bereich SMT, Solar und Hybrid. Daneben waren hochkarätige Vorträge der Firmen Continental, Siemens, Fraunhofer-Institut, Asys und Rehm Thermal Systems zu hören. Bei der Live-Übertragung aus dem firmeneigenen Application Center demonstrierten die Partnerfirmen Asys/Ekra, Ersa, kolb Cleaning Technology, cyberTechnologies, Koh Young und Semtech GmbH eindrucksvoll Druck- und Reinigungsprozesse. Fragen konnten während der Firmenbesichtigung im Detail dann geklärt werden. Das positive Feedback der Teilnehmer bestärkten die Notwendigkeit einer solchen Veranstaltung.
Unsere Webinar-Empfehlung
.png)
Die 3D-Messung und Inspektion des Lotpastendrucks ist ein wichtiges Qualitätswerkzeug. Dieses funktioniert nur mit den richtigen Toleranzen und Eingriffsgrenzen.
Teilen:
