JTAG Technologies präsentiert ein neues Support-Paket für Baugruppen- und Systementwickler, die einen einfachen BIT-Zugang (Built-in Test) für den Boundary Scan Test und die On-Board (Um)-Programmierung implementieren möchten. Erstmals seit der Einführung des IEEE Std. 1149.1 in 1990 können bestehende USB-JTAG-Ressourcen, die mittlerweile häufig auf Baugruppen zu finden sind, mit einer Boundary Scan-Testsoftware gekoppelt werden. Gemeinsam mit FTDI Ltd bietet das Unternehmen eine Support-Option für das FTDI 2232D und das neue FT2232H/4232H (Hi-Speed USB 2.0) Bauteil an, die eine Direktverbindung vom PC zum Target (UUT) über ein standardmäßiges USB-Kabel ermöglichen. Zu möglichen Anwendern dieser Support-Option gehören Reparaturtechniker, die damit die Anzahl der benötigten Messgeräte reduzieren können, sowie Entwicklungsingenieure, die sich mit dem Hardware-Debugging von JTAG-Schaltungen befassen. Peter van den Eijnden, Managing Director kommentiert: „Wenn die FTDI-Bauteile in eine Baugruppe integriert und entsprechend konfiguriert werden, dann arbeiten sie wie ein richtiger JTAG-Controller. Sie können dann ganz normal aus dem Instrumentenmenü unserer Software ausgewählt werden. Dies bringt entscheidende Vorteile hinsichtlich der Nutzung von Boundary Scan über die gesamte Lebensdauer eines Produkts, da die Überprüfung und Reparatur von Baugruppen und Systemen im Werk oder vor Ort deutlich vereinfacht werden kann.“ Daniel McCaffrey, Marketing Manager bei FTDI meint: „Wir unterstützen JTAG Technologies mit unserer bewährten Technologie, so dass die Integration von Testfunktionen in die Baugruppen attraktiver wird. Diese Erweiterung bietet gleichermaßen Vorteile für Anbieter und Kunden.“
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