Skalierbarer JTAG/Boundary Scan Multifunktions-Controller - EPP

Boundary Scan

Skalierbarer JTAG/Boundary Scan Multifunktions-Controller

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Anlässlich der Boundary Scan Days 2011 stellte Göpel electronic unter dem Namen SFX/COMBO1149-(x) den ersten Desktop Kompakt-Controller im Rahmen seiner Boundary-Scan-Hardwareplattform Scanflex vor. Dieser ist in der Lage, sämtliche standardisierten Test- und Programmiertechniken wie IEEE1149.x oder IEEE1532, aber auch viele andere Verfahren wie Prozessor-Emulationstest, Highspeed I/O-Test, Protokoll basierenden Interface-Tests, Analogtests und Chip embedded Instruments zu unterstützen. Die Flexibilität eröffnet wesentlich höhere Testabdeckungen, bessere Fehlerdiagnostik, Einsparungen separater Instrumente und zusätzlicher Prozessschritte und damit im Endeffekt eine Senkung der Produktionskosten. Der Multifunktionale Controller ist bereits für neueste Standards wie IEEE 1149.7 oder Chip embedded Instruments (IEEE P1687) gerüstet und sichert so höchste Skalierbarkeit und Zukunftssicherheit durch die integrierten Hardware-Erweiterungs-Slots ab. „Die praktische Umsetzung der immer massiver eingeführten Test- und Debug-Standards erfordert entsprechend leistungsfähige und offen skalierbare Systemlösungen gepaart mit einfachem Handling. Mit unserem innovativen SFX/COMBO1149 setzen wir hier neue Maßstäbe“, freut sich Thomas Wenzel, Geschäftsführer der Boundary Scan Division im Unternehmen. „Durch die Multifunktionalität des Controllers sind die Anwender nicht nur in der Lage, schnell Flash und PLD zu programmieren, sondern können auch eine höhere Testqualität erreichen. Die Unterstützung moderner und zukünftiger Standards wie IEEE 1149.7 oder IEEE P1687 sowie Verfahren zur Design-Validierung runden die herausragenden Eigenschaften der neuen Controller ab.“
Die SFX/COMBO1149-(x) Controllerserie bietet jeweils ein USB2.0 und Gbit LAN Interface und umfasst insgesamt drei Modelle in unterschiedlichen Leistungsklassen, welche per Software konfiguriert werden können und TCK-Frequenzen bis 80MHz ermöglichen. Die vier integrierten TAPs (Test Access Ports) sind in einer Vielzahl von Parametern programmierbar und können dadurch flexibel an die Unit Under Test (UUT) angepasst werden. Darüber hinaus verfügen die Controller über dynamische I/O Kanäle, analoge I/O und insgesamt drei Erweiterungsslots zur Aufnahme von SFX-Modulen. Über diese Module ist es möglich, den analogen oder digitalen Funktionsumfang der Hardware nahezu unlimitiert in alle Richtungen zu ergänzen. Die Controller-Familie wird von der industriell führenden JTAG/Boundary Scan wachsendem Erfolg eingesetzt.
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