Optische Verfahren, wie beispielsweise die Weißlicht-Interferometrie (WLI), ermöglichen in der Oberflächenmesstechnik kurze Messzeiten, bieten eine hohe Reproduzierbarkeit und arbeiten berührungslos, also ohne mechanischen Verschleiß an Messsystem oder Probe. Bis vor kurzem galt die optische Oberflächenmesstechnik jedoch nicht als Alternative für taktile Verfahren, weil sich die von der Rauheitsmessung geforderten und bekannten Normen nur schwer darauf übertragen ließen. Mittlerweile hat sich das jedoch geändert.
Das neueste Mitglied der TopMap-Familie von Polytec, das TopMap Pro.Surf+, kann sowohl Formabweichung als auch Rauheit schnell, zuverlässig und hochpräzise erfassen.
Die Grundlage dafür liefert ein integrierter, optischer Rauheitssensor. Er basiert auf dem Prinzip der chromatisch-konfokalen Abbildung und erfüllt die Anforderungen der neuen Norm ISO 25178. Diese definiert nun auch für berührungslose Messmethoden normierte Werte, um Qualitätsaudits nach EN ISO 9001 durchzuführen.
Damit zieht die optische 3D-Oberflächencharakterisierung erstmals mit den seit über 30 Jahren standardisierten 2D-Profilometern, also dem Tastschnittverfahren, gleich. Der berührungslose Lichtstrahl kann nun mit all seinen Vorteilen den taktilen Taster ersetzen. Die neuen WLI-Oberflächen- und Rauheitsmessgeräte werden zur All-In-One-Lösung für die schnelle und einfache Messung präzisionsgefertigter Oberflächen in den unterschiedlichsten Anwendungsbereichen. Dies gilt im Messraum ebenso wie produktionsnah oder sogar direkt in der Produktionslinie.
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