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Mit AOI-Inspektionssystemen ganz vorn

Top 100 Global Innovators
Mit AOI-Inspektionssystemen ganz vorn

„Clarivate Analytics“, ehemals das „Intellectual Property & Science business of Thomson Reuters“, nutzt Patentdaten, um die Trends des geistigen Eigentums zu analysieren und damit die Top 100 innovativen Konzerne und Institutionen auf der ganzen Welt auszuwählen. Es fließen Daten aus dem „Derwent World Patents Index“ (größte Wertschöpfungs-Patentdatenbank der Welt) und „Thomson Innovation“ (geistige Eigentumsumfrage und Analyseplattform) sowie unabhängige Bewertungsstandards in die Bewertung mit ein. Omron Corporation wurde als innovatives Unternehmen anerkannt, das weltweit beeinflussende Entwicklungen kreiert und die Schutzrechtskonventionen des geistigen Eigentums erfüllt. Eine Menge eigener Produkte und Patente gehen auch in die 3D-Inspektionssysteme ein, die im weltweiten Einsatz sind.
Das Unternehmen ist mit über 30 Jahren Erfahrung, als einer der Langzeit-Anbieter im AOI Markt weltbekannt. Die Systeme wurden ursprünglich einmal für die eigenen Fertigungen konzipiert und werden auch heute noch in den weltweiten Fertigungsstätten des Unternehmens eingesetzt.
Dabei ist das Unternehmen über viele Jahre einer der marktbestimmenden AOI Unternehmen, wie auch die jüngste, unabhängige Frost&Sullivan Studie zeigt (AOI: Platz 1, SPI: Platz 2, AXI: Platz 3). Zudem konnte die AOI-Sparte ihr Wachstum auch im letzten Jahr mit über 35 % Steigerung bekräftigen und diese Marktposition behaupten, so der European Business Manager AOI, Francis Aubrat. (Quelle: letzter Frost&Sullivan Report Dezember 2016)
Auch lokal im deutschsprachigen Bereich, konnte mit dem Distributor ATEcare ein deutliches Wachstum erzielt werden. Olaf Römer, Geschäftsführer ATEcare, gab bekannt, dass insbesondere die neue 3D-AOI Technologie mit mehreren gekoppelten 3D-Technologien, die geforderten Herausforderungen ohne Handicaps meistern kann. Auch die 3D-AXI Systeme, mit einer derzeit einzigartigen, inline-fähigen CT Technologie, haben Maßstäbe gesetzt und können parallel als automatisches Inspektionssystem (AXI) aber auch als CT-Analyse System genutzt werden. Dabei werden 3D-Bild- und Messergebnisse prozesstechnisch von SPI, AOI und AXI Systemen zusammengeführt.
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