Ein erfolgreiches Wafer-Probing und die Erfassung parametrischer Daten von HF-Bauteilen erfordert eine Beherrschung sowohl der mechanischen, als auch der...
Archiv Juni 2004
Entwickler für digitale Schaltungen sind mit den Vorteilen, die der Einsatz von Boundary Scan fähigen Bauteilen nach dem IEEE 1149.1 Standard mit sich...
Pünktlich zur SMT in Nürnberg präsentiert Spea die neue Boardtesterserie Spea 3030. Der Tester berücksichtigt die gestiegenen Anforderungen in der...
Traditionelle In-Circuit-Tester (ICT) können bei geringen Produktionsstückzahlen unwirtschaftlich sein, aber auch Flying-Probe-Tester (FPT) als Alternative...
Zur Praxis in der Elektronikfertigung gehört mitterweile das Outsourcing für die Produktion von Baugruppen: Tendenz steigend. Dabei handelt es sich in vielen...
LCD-Anzeigen mit immer höherer Bildqualität und Auflösung erfordern auch leistungsfähigere Treiberbausteine, die zudem in immer kleinere...
Am 24. und 25. März 2004 veranstaltete National Instruments zum neunten Mal den Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis –...
Heller Industries, Hersteller von Reflowlötmaschinen, hat vom Marktforschungsinstitut Frost & Sullivan den „Market Leadership Award“ erhalten, eine...
Die moderne Informationsgesellschaft stützt sich auf innovative Kommunikations- und Elektroniktechnologien, deren Rahmen zunehmend auch von Nachhaltigkeit...
Am 20. April 2004 fand bei Koenen High Screens & Stencils eine Veranstaltung statt, die über neue Strukturen im Hause, Erweiterungen der...