Auch 2014 laden National Instruments und Göpel electronic wieder gemeinsam Entscheidungsträger, Ingenieure und Techniker aus verschiedenen Bereichen der Elektronikindustrie – von Design und Produktion über Qualitätssicherung bis hin zur Applikation – zu einem Technologietag ein, bei dem das Thema „Baugruppentest„ im Fokus steht. Die Veranstaltung wird am 19. März 2014 im Dorint Hotel am Goethepark in Weimar stattfinden.
Fachvorträge von Anbietern innovativer Prüftechnik sowie Anwendern verschiedener Prüfverfahren präsentieren den aktuellen Stand der Technik, Fall- und Applikationsbeispiele sowie Ausblicke auf Trends und Entwicklungen. Die Teilnehmer können sich ein umfassendes Bild über die zahlreichen Möglichkeiten verschiedenster Prüfverfahren machen und bekommen entscheidende Anhaltspunkte zur Auswahl dieser an die Hand.
Der Technologietag informiert in diesem Jahr zu folgenden Themenbereichen:
- Allgemeine Strategien zum Test elektronischer Baugruppen
- Optische Inspektionstechnologien (AOI/AXI/SPI)
- JTAG/Boundary Scan
- Chip-embedded Instrumentation
- Funktionstest (FKT)
- Kombination verschiedener Testverfahren
Die Pausen sowie die Podiumsdiskussion bieten den Teilnehmern die Möglichkeit sich über die umfassenden Test- und Prüfmöglichkeiten auszutauschen und mit Experten und Fachkollegen über die Einsatzmöglichkeiten zu diskutieren. Zusätzlich bietet eine begleitende Ausstellung weitere Einblicke in Produkte und Technologien.
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