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AOI-Demotag in Schwabach

Entscheidungsfindung zur Investition leichter gemacht
AOI-Demotag in Schwabach

Um die Investition in ein AOI zu erleichtern, lud multi components nach Schwabach ins eigene SMT-Zentrum ein. Hier konnten die Teilnehmer die Erfahrung aus über 3000 weltweit installierten Saki AOI-Systemen nutzen, und sich diesbezüglich eingehend informieren.

Lars Bartels von multi components eröffnete die Veranstaltung mit einer allgemeinen Vorstellungsrunde, während der er auch die an ein AOI gestellten Erwartungen der Teilnehmer abfragte. Dann ging er dazu über, die Saki Corp. vorzustellen. Im April 1994 gegründet, mit Hauptsitz in Tokyo, Japan, hat der Hersteller heute ca. 270 Mitarbeiter weltweit, und Niederlassungen in Japan, China, Singapore, Korea und USA. In Deutschland ist die Saki Europe GmbH in Augsburg zu finden.

Im Anschluss daran wurden die technologischen Features vorgestellt, die in den verschiedenen AOI-Systemen des japanischen Herstellers zu finden sind. Beginnend mit der CCD-Farbzeilen-Technologie, hier wird durch Farbzeilen-Scan das gesamte Leiterplattenbild erfasst, was nicht nur eine schnellere Inspektion der Leiterplatte ermöglicht, sondern es entsteht ein stabiles Bild zur Berechnung des Algorithmus. Eventuelle und bekannte Probleme bezüglich des Kamerabereichs fallen weg. Das Linear-Scannersystem scannt und inspiziert Leiterplatten mit einer Größe von 250 mm x 330 mm in weniger als 18 Sekunden, Modell BF-Tristar, Hochgeschwindigkeits-AOI-System zur simultanen Inspektion von doppelseitig bestückten Leiterplatten, prüft eine Leiterplatte oben und unten in nur 25 Sekunden. Ein telezentrisches Linsensystem verhindert perspektivische Winkelfehler. Die Multi-Lighting-Technologie (MLT) wurde entwickelt, um die Erkennung von Lötstellen nach dem Löten zu verbessern, insbesondere um hochstehende Chips und Anschlussbeinchen zu erkennen. Zur Ergänzung der herkömmlichen Beleuchtung, von der Seite und co-axial von oben, gibt es hier eine Beleuchtung von unten. Über 20 verschiedene Bilder stehen zur Wahl, über „definable lighting“ kann das für den jeweiligen Prozess best geeignete Bild gefunden werden. Es besteht die Wahl zwischen verschiedenen Algorithmen, die Programmierung ist einfach und es stehen drei Fenster zur Programmerstellung zur Verfügung. Der aktuelle Bestückungsstatus wird ausgegeben, kostenlose Software-Updates sind erhältlich. Das Produktspektrum des japanischen Unternehmens kam zur Sprache und die verschiedenen Modelle, vom Inline-System BF-Frontier, BF-Planet-X bis zum Tischmodell BF-Voyager oder BF-18D-P40, wurden vorgestellt. Unter den verfügbaren Features befinden sich das Offline-Programmiersystem BF-Editor zur Offline-Programmerstellung sowie dem Transfer der Programmdaten im Netzwerk oder BF-RP1, eine Reparaturstation zum Betrachten der NG-Daten in Echtzeit. Die Fehler werden vergrößert angezeigt. BF-View ist für die Datenverarbeitung in Echtzeit zur Analyse von Prozessqualitäten von mehreren AOI-Geräten, erstellt SPC-Daten und speichert Produktionsdaten bis zu fünf Jahre. Der BF-Monitor überwacht mehrere AOI-Geräte, zeigt defekte Bauteilbilder in Echtzeit an, verringert die Kontrollen der Produktionsqualität an den einzelnen Produktionslinien und minimiert die Bedienerzahl sowie Produktionskosten. Abschließend kam noch das aktuelle Projekt, BF-Elite, zur Sprache, ein AOI- und AXI-Kombisystem für die doppelseitige Inspektion im Inline-Betrieb. Das System ist in der Lage, mittels Röntgenbilder gleichzeitig beide Seiten einer Leiterplatte zu inspizieren. Das Röntgenbild wird zur Sammlung der für die Inspektion verwendeten Bilder hinzugefügt. Algorithmen, Interface und die Verwendung der Software ist identisch mit den herkömmlichen AOI-Systemen. Ein Erfahrungsbericht von Julian Gläser, der von E.G.O. kam, wo AOI-Systeme von Saki im Einsatz sind, beendete den theoretischen Teil, und es ging an die praktische Durchführung an den Systemen selbst. Ein informativer Tag rund um AOI, durch den die Mitarbeiter Andreas Eichler und Lars Bartels von multi components ihre Teilnehmer führten. (dj)
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