Das von Rohde&Schwarz vertriebene optische Inspektionssystem Laser-Vision bietet jetzt neue Funktionen. Das AOI-System ist als eigenständiger Prüfplatz und als In-Line-System erhältlich. Mit der um neue Algorithmen erweiter-ten Lötstellen-Kontrolle können nahezu alle Schaltkreis-Typen wie beispielsweise QFP oder SOIC geprüft werden. Gleichermaßen lassen sich nun Lötstellen an ICs auf Brücken, angehobene und nicht verlötete Anschlüsse sowie auf fehlendes Lot überprüfen. Für kürzere Prüf- und Programmierzeiten sorgt eine neue Megapixel-Kamera mit erweitertem Blickfeld, die auch grö-ßere Bauteile mit nur einer Aufnahme erfasst. Ihre Auflösung beträgt 1200 x 900 Pixel, womit die Kamera gegenüber der bisher eingesetzten CCIR-Kamera ein um etwa den Faktor drei erweitertes Blickfeld aufweist. Damit wird die Zahl der Bilder pro Prüfobjekt insgesamt reduziert, wodurch sich deutlich geringere Prüf- und Programmierzeiten ergeben. Diese Option ist speziell für das In-Line-System kon-zipiert, das auf einen hohen Testdurchsatz ausgerichtet ist. Zudem ermöglicht eine Echtzeit-Statistik das sofortige Auswerten der anfallenden Prüfdaten nach unterschiedlichen Kriterien.
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