Am 29. Juni 2006 veranstalteten National Instruments und Konrad Technologie gemeinsam im SpOrt in Stuttgart den 8. ATE-Technologietag. Ob für Designvalidierung oder produktionsbegleitende Tests, Prüfingenieure stehen immer vor der Herausforderung, leistungsfähige und zugleich kostengünstige Prüfsysteme zu entwickeln. So konnten die Teilnehmer an diesem Tag in Fachvorträgen und Präsentationen erfahren, wie sie effiziente und gleichzeitig kostengünstige Prüfsysteme aufbauen können sowie welche Kriterien bei der Wahl der Komponenten eine Rolle spielen. In den Pausen sowie im Anschluss an die einzelnen Vorträge hatten die Teilnehmer Gelegenheit, sich in der begleitenden Fachausstellung bei Veranstalter und den beteiligten Partnerfirmen genauer über die vorgestellten Projekte zu informieren. So boten Amfax, AVT, JTAG, Konrad Technologie, microLex, National Instruments, Sony Maxx Vision, uwe Electronic und Vision Light Tech zusätzlichen Raum für intensive Gespräche mit Experten. Es wurden Grundlagen und Anwendungsbeispiele aus den Bereichen der Avionik, Automotive, Elektroproduktion und Design der HF-Kammer sowie des Incircuit-Tests, Funktionstest und Final Test, Machine Vision, HF-Messung und Boundary Scan vorgestellt. Die Vorträge reichten von der Vorstellung einer neuen Testzellengeneration Multi Scalar Test Cell, der Durchführung von Design von Testability-Analysen und Leistungsmerkmalen eines Prüfstandes für Soft- und Hardwarevalidierung über Boundary Scan, Bus Systeme im ATE-Bereich, neuartiges Analogbus- und Switchingkonzept für PXI bis zu Interface Technologien für PXI-Analogbuskonzept für manuelle sowie automatisierte Testhandler. Informationen von Experten für Experten. Die Präsentationen gliederten sich in Track 1, „Vision/Video/Audio“, über unter anderem FireWire-Kameratechnik, Inspektionen von Symbolen auf Tastenkappen sowie Bedienblenden, selektive Lötstelleninspektion, intelligente Kamerasysteme und Strategien zur Langzeitverfügbarkeit von Testsystemen. Dagegen hatte Track 2 High Frequency zum Thema, wo Testlösungen für Bluetooth und Wireless mit PXI, Inline-HF-Messtechnik, modellbasiertes Messen im Produktionsbereich mit Möglichkeiten bei der Messung im HF-Feld und softwaredefiniertes Testen von HF-Komponenten präsentiert wurde. Den Abschluss bildete eine Podiumsdiskussion über das Thema „Kann der Funktionstest den ICT ersetzen?“ Die Kombination aus Fachvorträgen, Gesprächen mit Spezialisten und der begleitenden Ausstellung gab allen Teilnehmern des ATE-Technologietags die Gelegenheit zum Erfahrungsaustausch sowie zur Beobachtung und Analyse von aktuellen Trends.
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