Startseite » Allgemein »

AXI-System für große Leiterplatten

Allgemein
AXI-System für große Leiterplatten

Anzeige
Phoenix-Xray stellt den Multilayer-Analyser XL vor, der durch seine große Durchlichtfläche eine Inspektion von Leiterplatten mit Abmessungen von bis zu 710 x 560 mm² bei einer Detailauflösung von 1 µm ermöglicht. In Kombination mit der Prüfsoftware ML-Module und der serienmäßigen Autopositionierung ist ein genaues Bestimmen der Rest-ring-Breiten nach einem frei programmierbaren Prüfschema möglich. In Schräg-Durchstrahlung bei höchster Vergrößerung (ovhm) kann weiterhin ein genaues Prüfen von Durchkontaktierungen und ein Untersuchen von Mikrovia-Metallisierungen vorgenommen werden. Der um 360° drehbare Rotationstisch ermöglicht zusätzlich eine stufenlose Betrachtung von allen Seiten. Das System ist wahlweise mit einer of-fenen Mikrofokus- oder Nanofokus-Röntgenröhre ausgestattet und kann Proben mit einem Gewicht von bis zu 15 kg aufnehmen.

Anzeige
Schlagzeilen
Aktuelle Ausgabe
Titelbild EPP Elektronik Produktion und Prüftechnik 4
Ausgabe
4.2021
LESEN
ABO
Newsletter

Jetzt unseren Newsletter abonnieren

Webinare & Webcasts

Technisches Wissen aus erster Hand

Whitepaper

Hier finden Sie aktuelle Whitepaper

Videos

Hier finden Sie alle aktuellen Videos

Anzeige
Anzeige

Industrie.de Infoservice
Vielen Dank für Ihre Bestellung!
Sie erhalten in Kürze eine Bestätigung per E-Mail.
Von Ihnen ausgesucht:
Weitere Informationen gewünscht?
Einfach neue Dokumente auswählen
und zuletzt Adresse eingeben.
Wie funktioniert der Industrie.de Infoservice?
Zur Hilfeseite »
Ihre Adresse:














Die Konradin Verlag Robert Kohlhammer GmbH erhebt, verarbeitet und nutzt die Daten, die der Nutzer bei der Registrierung zum Industrie.de Infoservice freiwillig zur Verfügung stellt, zum Zwecke der Erfüllung dieses Nutzungsverhältnisses. Der Nutzer erhält damit Zugang zu den Dokumenten des Industrie.de Infoservice.
AGB
datenschutz-online@konradin.de