Phoenix-Xray stellt den Multilayer-Analyser XL vor, der durch seine große Durchlichtfläche eine Inspektion von Leiterplatten mit Abmessungen von bis zu 710 x 560 mm² bei einer Detailauflösung von 1 µm ermöglicht. In Kombination mit der Prüfsoftware ML-Module und der serienmäßigen Autopositionierung ist ein genaues Bestimmen der Rest-ring-Breiten nach einem frei programmierbaren Prüfschema möglich. In Schräg-Durchstrahlung bei höchster Vergrößerung (ovhm) kann weiterhin ein genaues Prüfen von Durchkontaktierungen und ein Untersuchen von Mikrovia-Metallisierungen vorgenommen werden. Der um 360° drehbare Rotationstisch ermöglicht zusätzlich eine stufenlose Betrachtung von allen Seiten. Das System ist wahlweise mit einer of-fenen Mikrofokus- oder Nanofokus-Röntgenröhre ausgestattet und kann Proben mit einem Gewicht von bis zu 15 kg aufnehmen.
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