Boundary Scan Days 2013 werfen ihre Schatten voraus

Am 15. und 16. Mai 2013 veranstaltet die Göpel electronic GmbH zum 13. Mal die Boundary Scan Days in Jena. Das diesjährige Interessenten- und Anwendertreffen zum Thema designintegrierte Testelektronik wird wieder ein Füllhorn an Informationen über aktuelle und zukünftige Methoden zum Testen, Programmieren, Emulieren oder Verifizieren komplexer elektronischer Schaltungen anbieten. Der Schwerpunkt liegt in diesem Jahr auf den Embedded System Access (ESA) Technologien, zu denen sowohl JTAG/Boundary Scan als auch neuartige Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören. Ein spezielles Bonbon stellt die Vorstellung von Bit Error Rate Tests (BERT) auf Basis von FPGA Embedded Instruments dar.

Während der Veranstaltung werden Nutzer und Entwickler Vorträge über Anwendungen, neue Technologien, Standards and technologische Trends halten. Vertreter von Firmen aus den Bereichen Industrieelektronik, Mess- und Prüftechnik, Luft- und Raumfahrt, Automotive, Medizintechnik und Kommunikationselektronik berichten über Applikationen, Problemlösungen sowie spezielle Einsatzfälle und deren Nutzwerte. Eine wichtige Säule bilden die Workshops, die von den Gästen je nach Interessenlage besucht werden können. Auch hier sind die Themen von Prozessor-Emulation, Chip-Embedded Instrumentierungen über Programmieraufgaben bis hin zu effektiven JTAG/Boundary-Scan-Projektentwicklungen breit gefächert. Die Veranstaltung bietet eine Plattform des persönlichen Erfahrungsaustauschs, der Erkenntnisgewinnung und der Diskussion zukünftiger Anwendungen – mittlerweile zählen sie zu diesem Fachthema als führende Technologieveranstaltung in Deutschland. Interessenten können sich bei Frau Ulrike Schmidt per Email unter u.schmidt@goepel.com, telefonisch unter der 03641–6896–764 oder online auf www.goepel.com/bscan-days zu den Boundary Scan Days anmelden.