Boundary Scan Days in Jena 2004

Am 11. und 12. Mai 2004 veranstaltete Göpel electronic zum dritten Mal die Boundary Scan Days mit mehr als 50 Besuchern, die sich sowohl über Allgemeines zum Thema Boundary Scan/JTAG als auch über konkrete Problemlösungen und Applikationsberichte informieren konnten. Die Veranstaltung, unterteilt in einen Public Day und Customers Day, ist mehr als nur ein Anwendertreffen, nein, auch der Erfahrungs- und Gedankenaustausch stehen ganz vorn. Vertriebsleiter des Unternehmens Hans-Ulrich Stolze eröffnete und moderierte durch die Veranstaltung. Beim ersten Vortrag „Boundary Scan vs. Incircuit-Test“ von Applikationsingenieur Mario Berger war anhand einiger Beispiele über die Schwierigkeiten, die sich mit dem aktuellen und vor allem zukünftigen Einsatz des Incircuit-Tests in punkto Zugriff ergeben könnten, zu hören. Boundary Scan als ähnliches Testverfahren, das im Gegensatz zum ICT aber direkt in der Schaltung testet und keinerlei zusätzliche physikalischen Testpunkte erfordert, kristallisiert sich mehr und mehr als Alternative heraus. Nahtlos ging der Übergang zum Vortrag von Manfred Philipigh, Scorpion Technologies, der die Kombination von Boundary Scan mit einem Flying Prober darstellte. Dabei berichtete er über unterschiedliche Integrationsmöglichkeiten und fokussierte auch die Testabdeckung, die durch diese Kombination sehr stark zunimmt. Jan Heiber von Göpel electronics durfte gleich zweimal vor die Besucher treten: Am ersten Tag stellte er das Thema „Rapid Prototype Testgenerierung“ vor, wobei er auf die erweiterten Möglichkeiten verwies, welche die Software Version Cascon 4.1.1 anbietet. Am zweiten Tag referierte er über die Multi Mode Probe, ein Multifunktionsmessgerät, das statische und dynamische Überprüfung von IEEE 1149.1 Signalleitungen und anderen Potenzialen auf digitalem Logikniveau, auf analogem Messwertniveau sowie als Waveform ermöglicht. Nach der Kaffeepause kamen die Vorträge der Firmen Altera, Router Solutions, Future Electronics und National Semiconductor an die Reihe, wobei es sich nicht um Werbevorträge bezüglich firmeneigener Produkte handelte, sondern um die Vorstellung von Möglichkeiten des Einsatzes von Boundary Scan mit den jeweiligen Bauelementen. Router Solutions, seit einiger Zeit Partner von Göpel electronic, präsentierte ein Tool zur Berechnung der Testabdeckung und stellte weitere sinnvolle Lösungen zur Auswahl der richtigen Teststrategie vor. Der Vortrag von Oliver Wilms, National Semiconductor, schloss die Vortragsreihe des ersten Tages, der mit einem gemeinsamen Abendessen und anschließender Abendveranstaltung zu Ende ging. Am zweiten Tag, dem Customer Day, waren sehr spezifische Vorträge zu hören. Neben der Vorstellung des weiterentwickelten Boundary Scan Probers, einem System zur Feindiagnose, wurden auch die neuesten Features der integrierten Boundary Scan Entwicklungsumgebung Cascon 4.1.1 durch Norbert Münch präsentiert. Dabei wurde die Neugier der Anwender geweckt, was sich in einer regen Frage-Antwort-Runde äußerte. Auch der Vortrag von Thomas Meier, Siemens, wurde interessiert aufgenommen und mit Fragen bedacht. Der anschließende Vortrag von Dominique Wiatrowski von der Firma Sitest befasste sich mit der Testabdeckungsberechnung bei gemischten Teststrategien, wobei er das Tool TestWay, entwickelt von dem französischen Unternehmen Aster, präsentierte. Mit Hilfe des Tools kann der Anwender, je nach Bestückung, die optimale Teststrategie für seine Flachbaugruppen auswählen. Vor der Mittagspause beleuchtete Michael Winklhofer, Ing.-Büro Winklhofer, mit seiner Präsentation die Erhöhung der Testtiefe durch externe Teststrategien. Nachmittags, im Anschluss an die Vortragsreihen, die Thomas Wenzel, Geschäftsführer von Göpel electronic beendete, wurden weitere Gespräche geführt, die ausgestellten Produkte und Testaufbauten begutachtet und auch teilweise live vorgeführt. Mit vielen neuen Eindrücken und Informationen traten die Besucher dann ihre Rückreise an.

EPP 401