JTAG hat das Boundary-Scan-Testsystem XIOS (extended I/O-Scan) mit zusätzlichen Prüfkanälen auf Basis des Standards IEEE 1149.1 vorgestellt, mit dem mittels externen Zugriffs eine besse-re Fehlerabdeckung erreicht wird. Das System ist mit 128, 256, 384 oder 512 Kanälen lieferbar, wobei jedes Ge-rät durch Hinzufügen von DIMM-DIOS-Modulen mit weiteren 128 Kanälen auf die maximale Kanalanzahl von 512 nachgerüstet werden kann. Jeder Prüfkanal lässt sich individuell als Input (Sensor), Output (Treiber) In-/Output (bidirektional) oder Tristate definieren, unterstützt werden 2,5- und 3,3-V-Signale. Das System ist zu den Boundary-Scan-Controllern der Datablaster-Familie kompatibel und kann an diese mittels des eingebauten POD direkt über SCSI-Kabel angeschlossen werden.
EPP 217
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