Während der productronica 2011 zeigt Aster Technologies die Erweiterung seiner Analysewerkzeuge TestWay, TestWay Express, DfT und Test Coverage um ein Tool mit neuen „Design-to-Test“ Features. Damit hat man den, auf die Layoutierung folgenden, Prozess der Testentwicklung stark beschleunigt. In einem vor kurzem bei Airbus durchgeführten Experiment konnte die Zeit der Testprogramm-Erstellung um bis zu 30 % verringert werden, indem die Design-to-Test-Dateien für den In-Circuit-Test wie „board“, board_xy“ bei Agilent, oder die Modelle für hybride, analoge und digitale Bauteile, einschließlich der Disable-Funktionen, automatisch erzeugt wurden. Darüber hinaus hat das Unternehmen einen Algorithmus zur Testoptimierung in die Export-Datei des Takaya-Flying-Probe-Testers integriert, der Tests besser ausbalanciert und den Boundary-Scan-Test optimiert. Dieser Algorithmus kann entweder durch die theoretische Boundary-Scan Testabdeckung gespeist werden, oder durch die tatsächliche Testabdeckung, die von den Testern diverser Anbieter importiert wird. Weitere Export-Dateien sind derzeit in der Entwicklung, um alle Test- und Inspektions-Maschinen der gesamten Bestückungslinie abzudecken.
Christophe Lotz der Geschäftsführer formuliert es so: „TestWay und TestWay Express waren schon immer fähig, Teststrategien zu analysieren, um die gesamte Testabdeckung zu definieren. Jetzt sind wir in der Lage, ein Testprogramm zu generieren, das die tatsächliche Situation des Anwenders berücksichtigt.“ Es wird immer wichtiger, Test- und Bestückungs-Dokumente wie z. B. Bestückungs- und Test-Anweisungen anhand von CAD-Daten zu organisieren und einen nahtlosen Übergang zwischen den Dokumenten und Leiterplatten-Visualisierungstools sicherzustellen. Hierfür hat man ein QuadView-Portal entwickelt, das es ermöglicht, elektronische Dokumentation zentral um den QuadView Board-Viewer zu organisieren. Über die benutzerfreundliche Bedienerschnittstelle werden Daten zentral verwaltet. Alle Produktmerkmale sind auf einer gemeinsamen Bildschirmansicht verfügbar.
productronica, A1.232
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Die Zuhörer erhalten Informationen zur Effizienzsteigerung von AOI-Systemen bei Nutzung von Digitalen Zwillingen von der zu prüfende Baugruppe bzw. des eingesetzten Inspektionssystems.
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