In Zusammenarbeit mit dem ZµP, Zentrum für mikrotechnische Produktion an der TU Dresden veranstaltete Phoenix-Xray sein 3. Forum zu den Themen Fehleranalyse und Qualitätssicherung. Die Anzahl der über 120 Teilnehmer zeigte, dass ein nach wie vor steigender Stellenwert bezüglich der Entwicklungen in der Mikrosystemtechnik und der zerstörungsfreien Prüfung zu verzeichnen ist. Zuerst sprach Wolf-Joachim Fischer über die Trends in der Mikrosystemtechnik – Grundlagen und ausgewählte Anwendungsgebiete. Dann zeigte Holger Roth, Phoenix-Xray, in seinem Vortrag moderne Techniken zur Untersuchung von BGA-Lötstellen. Anhand festgelegter Testkriterien lassen sich Fehler wie Kurzschlüsse, Poren, Versatz und Kippung der BGA-Baugruppen eindeutig identifizieren und qualifizieren. Durch zahlreiche Applikationsbeispiele wurden die Möglichkeiten und Grenzen der halbautomatischen und automatischen BGA-Inspektion aufgezeigt. Im Anschluss daran referierte Jürgen Stephan, Siemens München, über die 3D-Röntgeninspektion von Flachbaugruppen. Klaus-Jürgen Wolter vertiefte diese Ausführungen dann in seinem Vortrag über die Anwendung der Computertomographie in der Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik mit Hilfe von Beispielen aus dem Bereich „Stacked Dies“, „Lab-on-a-Chip“ und speziellen Verbindungstechniken wie Polymerbumps für BGAs. Ein „heißes Eisen“ behandelte Holger Roth in seinem Vortrag zu potenziellen Beeinträchtigungen elektronischer Bauelemente durch Röntgenstrahlung. Verschiedene Untersuchungen haben gezeigt, dass die Wahrscheinlichkeit einer Schädigung elektronischer Bauelemente durch Röntgenstrahlung im Rahmen einer normalen Durchstrahlungsprüfung quasi ausgeschlossen werden kann. Dennoch gibt es Möglichkeiten, die erforderliche Strahlung weiter zu vermindern. Trotzdem sollte daran gedacht werden, dass die natürliche Strahlenbelastung bei einer geschätzten Lebensdauer von 10 Jahren ein Mehrfaches der Dosis einer intensiven Röntgeninspektion ausmacht. Der Nachmittag stand im Zeichen der praktischen Demonstration an den Röntgensystemen.
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