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Embedded System Access (ESA) – Eine neue Testtechnologie stellt sich vor

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Embedded System Access (ESA) – Eine neue Testtechnologie stellt sich vor

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Die Göpel electronic GmbH mit Sitz in Jena ist einer der weltweit technologisch führenden Anbieter von elektrischen und optischen Test- und Inspektionssystemen für elektronische Bauelemente, bestückte Leiterplatten sowie Kfz-elektronische Systeme, z.B. Steuergeräte.

Gegründet wurde das Unternehmen 1991 von vier ehemaligen Mitarbeitern des Kombinats Carl Zeiss Jena. Neben den über 200 Mitarbeitern (Stand Januar 2013) unterhält man jeweils Sales- und Support-Offices in den USA, Indien, China, Großbritannien und Frankreich. Des Weiteren sind ca. 300 zusätzliche Spezialisten in das internationale Distributions- und Servicenetzwerk eingebunden, um weltweiten Kundensupport vor Ort zu gewährleisten.
Das Unternehmen ist seit 1996 ununterbrochen ISO9001-zertifiziert und wurde im Rahmen des TOP-JOB Programms als eines der 100 besten mittelständischen Unternehmen Deutschlands ausgezeichnet. Die Produkte gewannen in den letzten Jahren mehrere begehrte Auszeichnungen und werden bei den führenden Firmen auf den Gebieten Telekommunikation, Automotive, Luft- und Raumfahrt, Industriesteuerungen, Medizintechnik, Unterhaltungselektronik und vielen anderen mit wachsendem Erfolg eingesetzt.
Die Geschäftsbereiche des Herstellers innovativer Testsysteme sind JTAG/Boundary Scan, Automatische Optische Inspektion (AOI), Automatische 3D-Röntgeninspektion (AXI), Automotive Test Systeme, Funktionstestsysteme sowie Industrielle Bildverarbeitung.
Synergieeffekte im Bereich Testen
Seit der Standardisierung der JTAG-Schnittstelle im IEEE 1149.1 vor mehr als 20 Jahren erfreut sich diese zunehmender Beliebtheit. Die damit implementierten Ausprägungen sind weit gefächert und reichen weit über die wohl bekannteste Funktion − den Boundary-Scan-Test − hinaus. Im Vortrag von Dipl.-Ing.(FH) Mario Berger zu „Embedded System Access (ESA) – Eine neue Testtechnologie stellt sich vor“ werden die drei Hauptanwendungsgebiete der JTAG-Schnittstelle aufgezeigt und eine Technologie vorgestellt, welche diese drei Ausprägungen in einem vereint. Die sich daraus ergebenden Synergieeffekte führen zu teilweise völlig neuen Ansatzmöglichkeiten im Bereich des Testens und insbesondere in der Programmierung wie auch Validierung und Emulation von elektronischen Baugruppen. Die Auswirkungen reichen von veränderten Fertigungsabläufen im Prüffeld über Einsparpotenziale bei der Funktionstestfirmware bis hin zur Testabdeckung bei immer komplexer werdenden Baugruppen.
Ein Statement zur Teilname am InnovationsForum gibt Stefan Meißner, Public Relations Verantwortlicher: „Das InnovationsForum bietet eine hervorragende Möglichkeit der Informationsbeschaffung zu vielen Themen und Fragen, die gesamte Elektronikfertigung betreffend. Da das Thema Qualitätssicherung einen besonders hohen Stellenwert hat, ist die Veranstaltung für unser Unternehmen als Anbieter optischer und elektronischer Mess- und Prüftechnik sehr interessant. Sie stellt eine Plattform zur Informationsbeschaffung und auch intensiverer Kunden- und Interessentengespräche dar. Im Gegensatz zu überfüllten Messehallen können hier Problemlösungen eingehender analysiert und besprochen werden.“
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