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Erhöhte Effizienz in Programmier- und Testabläufen

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Erhöhte Effizienz in Programmier- und Testabläufen

Erhöhte Effizienz in Programmier- und Testabläufen
Göpel electronic stellte die Erweiterung des Inline-Produktionssystems Rapido vor. Die neuen Features erleben damit eine weitere Entwicklung und ermöglichen größeren Produktionsdurchsatz sowie die Minimierung von Fehlern bei Test und Programmierung in der Produktion. Systeme der Familie bieten beidseitige Kontaktierung mit bis zu 3000 Nadeln bei 32 Sites für Inline-Programmierung nichtflüchtiger Speicher wie Flash, MicroController (MUC) und Programmable Logic Devices (PLD). Innerhalb des Systems kann die Programmierung mit Teststrategien wie Boundary Scan, Processor Emulation, Chip Embedded Instruments oder Funktionstest kombiniert werden. Eine signifikante Verbesserung stellen die neuen Features des FID-Moduls (Fixture Identification and Data) dar. Das intelligente System informiert den Nutzer über Service-Intervalle und Wartungshinweise des kundenspezifischen Adapters. Zusätzlich speichert das Modul Informationen von vergangenen Wartungszyklen zu einer Adapterhistorie. Daraus ergibt sich die Vermeidung von Pseudo-Fehlern durch mangelhafte Kontaktierung aufgrund abgenutzter Nadeln. Die intelligente Projektsteuerung schließt Bedienfehler bei manuellem Projektwechsel aus. Eine neu integrierte Re-Test Funktion sorgt für zusätzliche Effizienz in Programmier- und Testabläufen. Der Anwender kann dabei vorab eine Anzahl von Wiederholungszyklen bei nicht erfolgreichen Programmier- oder Testdurchläufen definieren. Hinzukommend sind Modelle der Bezeichnung RPS 900-S16/S32 ab sofort mit erweiterter Nutzenfläche von bis zu 450 x 250mm verfügbar.

Das Spektrum an Rapido Produkten umfasst derzeit drei Modelle mit verschiedener Nadelzahl, Sites und jetzt auch Nutzenflächen. Darüber hinaus existieren eine Vielzahl von Optionen, zur Anpassung der Systeme an spezifische Kundenbedürfnisse zur Inline Integration, oder zur Programmierstrategie. Alle Systeme basieren auf dem Einsatz fortgeschrittener Embedded System Access (ESA) Technologien zum Test und zur Programmierung hochkomplexer Boards.
Als Programmier-Targets werden sämtliche Typen von Flash Speichern wie NOR, NAND, eMMC mit parallelem oder seriellem Interface unterstützt. Im Fall von extern über Steckverbinder zugreifbaren Flash ist auch eine direkte Programmierung über Nadeln möglich, da Rapido über separate dynamische I/O verfügt. Weitere Targets sind Microcontroller und alle Arten von PLD oder FPGA. Ergänzend zur Programmierung steht eine breite Palette an strukturellen Testverfahren zur Verfügung. Schwerpunkt ist hierbei insbesondere der Verbindungstest von Chips im BGA-Gehäuse, sowie die funktionale Verifikation sämtlicher Schaltungsteile.
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