Stetig wachsende Anforderungen an die Qualität von Solarzellen erfordern effektive und schnelle Charakterisierungssysteme. Mit der S2012PV bietet Viscom erstmalig weltweit ein optisches Inspektionssystem für die Produktion von Solarzellen an. Die S2012PV ist ein AOI-System für Anwendungen wie die Wafer-Eingangskontrolle, Zellencharakterisierung und Zellenendkontrolle. Dabei wird u. a. auf Geometrie, Risse, Farbe, Druckbild und Mikro-Risse geprüft – und das bei besonders großer Prüftiefe. Das System ist mit der leistungsstarken VisCam-Sensorik ausgestattet und kann modular an jedes Prüftor und für jede Charakterisierungsaufgabe angepasst werden. Sie garantiert eine gleichbleibend gute Qualität in der Zellenfertigung. Das AOI-System ist zudem besonders einfach in die jeweilige Fertigungsumgebung integrierbar. Das speziell entwickelte Kalibrationskonzept sorgt für echte Maß-Treue und für eine dauerhafte Reproduzierbarkeit aller Prüfaufgaben.
EPP 483
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