Handler für höhere Testausbeute

Advantest Corporation stellt den neuen Testhandler M6245 vor, welcher sich durch höchste Produktivität bei minimaler Ausfallzeit auszeichnet und aufgrund der neusten Technologie für das Handling von DDR- (Double Data Rate) und Flash-Speicher-Bauteilen geeignet ist. Der Handler enthält ein optisches Alignment-System, das die Testausbeute bei einem 0,3mm Ball Pitch durch die hohe Kontaktiergenauigkeit verbessert. Dadurch eignet sich das System auch für Speicher mit sehr feinem Pitch. Die hoch genaue Ausrichtung erlaubt zudem eine schnellere Einrichtung und Kalibrierung, was ebenfalls zur Steigerung der Systemproduktivität beiträgt. Das neue Design gewährleistet durch die optische Ausrichtung bei Fine-Pitch-Bauteilen einen maximalen Durchsatz. Zudem ermöglicht das Design auch bei einer mechanischen Ausrichtung von Bauteilen mit konventionellem Pitch einen höchstmöglichen Durchsatz. Die Produktivität wird durch die hohe Automatisierung des neuen Handlers maximiert. Halbleiter-Bauteile werden nach einem ersten Test automatisch erneut getestet, um den Arbeitsaufwand des Bedienpersonals zu reduzieren gleichzeitig aber die höchstmögliche Ausbeute sicherzustellen. Durch den Einsatz der neuen thermischen Technologie “Dual-Fluid Design“ des Unternehmens kann die Temperatur jedes einzelnen zu prüfenden Bauteils im gesamten Bereich von –20°C bis 100°C auf ±1°C genau gehalten werden. Die Temperaturgenauigkeit in den Bereichen –40°C bis –20°C und 100°C bis 125°C liegt bei ±2˚C. Dies erlaubt eine hoch genaue Prüfung von Memory-ICs, die für einen weiten Temperaturbereich spezifiziert sind. Das System enthält auch das neue Handler Data Visualization Framework, das eine Echtzeit-Überwachung der Testzelle über eine Internet-Verbindung ermöglicht.