Die modularen Digital-Analog-Tester DAT500 von Dr. Eschke Elektronik sind für den parametrischen Funktionstest von Baugruppen, ICs, ASICs und FPGAs vorgesehen. Für digitale Signale stehen max. 1280 Kanäle mit je 100 MS/s, 32 768 Testschritten, programmierbaren Pegeln, Delays und Schwell-werten zur Verfügung. Auf Analogmodulen sind Arbitra-ry-Generatoren und Recorder/Scope-Funktionen für 1 GS/s bei 262 144 Testschritten verfügbar. Damit sind Single- und Shot-Zeitauflösungen von 1 ns problemlos möglich. Weitere verfügbare Module sind ein Mehrkanal-Arbitrary-Generatorein Mehrkanal-Digital-Scope, Frequenzsynthesizer, HF-Taktgeneratoren (max. 420 MHz, PECL, CMOS, TTL, variable Pegel und Slew-Rate), n x 96 analoge Stimuli- und Acquisition-Kanäle mit 11 Bit Genau-igkeit, Sense-Funktion, poten-tialfreie Relaiskontakte, ska-lierbare Scanner und variable DUT-Spannungsversorgungen. Die großen Pattern-Raten gewährleisten einen volldynamischen Funktionstest, Toleranzbereiche zu Taktfrequenzen und Betriebsspannungen können sicher getestet werden. Der ATE-Programmgenerator ermöglicht kurze Rüstzeiten, spezielle Programmiersprachen sind nicht erforderlich.
EPP 204
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