ICs effizient testen

Hans Jürgen Wimberger, Advantest, München

Mit ca. 56 Milliarden US$ nehmen Mikroprozessoren einen Löwenanteil ein. Zum Test derartiger Highend-MPUs hat sich in den letzten Jahren die auf der offenen Architektur (Openstar) basierte T2000 mit SP(Star Pro) Mainframe auf dem Markt durchgesetzt. Mit ca. 69 Milliarden US$ ist der Markt für Consumer ICs sogar größer, das Produktportfolio dahinter jedoch wesentlich weiter und dadurch die Testanforderungen vielfältiger. Trotz steigender Leistungsfähigkeit fallen die Verkaufspreise für derartige ICs jährlich um ca. 10 %. Auf diese Entwicklung müssen Halbleiterhersteller durch Reduzierung der Fertigungs- und Testkosten reagieren. Advantest hat hierfür innerhalb der T2000-Plattform mit dem LS(Light Star) Main- frame (Bild 1) eine neue effiziente Testlösung für ICs im Consumerbereich entwickelt. Zusammen mit den hochintegrierten 500/800 Mbps-(Megabit per second) Digitalmodulen, die ab der zweiten Hälfte 2007 verfügbar sind, können bereits im kleinen 26-Slot-Testkopf über 2000 Testerkanäle realisiert werden. Hierdurch ist je nach Pinzahl des Prüflings ein massiver Paralleltest von mehr als 64 ICs und eine Reduzierung der Testkosten um über 50 % möglich. Beide Digitalmodule verfügen außerdem über eine Speichertestfunktionalität zum Test komplexer SoC-Bauteile mit integriertem Speicher und eine DFT-Funktionalität mit Nutzung der Scan-Test-Fähigkeit. Die Flexibilität und Skalierbarkeit des T2000-Systems erlaubt zusätzlich eine relativ einfache Anpassung an neue Testanforderungen, was die Nutzungsdauer des Testers erheblich verlängert. Neben den erwähnten Digitalmodulen hat das Unternehmen auf der letztjährigen Semicon West mit dem 16-Kanal-Mixed-Signal-Modul „16chBBWGD“ (Bild 2) ein Board mit einem bisher einzigartigen Preis-Leistungs-Verhältnis vorgestellt. Dank seiner Integrationsdichte bei gleichzeitig extrem hoher Genauigkeit wurde das Modul von der Zeitschrift Test & Measurement World mit dem „2007 Best in Test Award“ ausgezeichnet.

Die Kombination des neuen LS-Mainframes mit dem „16chBBWGD“-Board, den 500/800 Mbps Modulen und dem neuen PMU32-Modul, zum kostengünstigen, hochgenauen Test der Linearität von ADC/DAC, bildet somit eine technisch und wirtschaftlich ideale Lösung für heutige komplexe, kostensensitive SoCs. Gleichzeitig zeichnet sich das neue LS-Mainframe durch ein Platz sparendes Design mit geringerem Stellflächenbedarf aus. Die Testmodule sind einfach austauschbar und lassen sich schnell und unkompliziert an die Anforderungen des jeweiligen Testobjekts anpassen. Hierdurch können optimale Konfigurationen für spezifische Anwendungen verwendet und die Kosten des Testers reduziert werden. Alle verfügbaren und zukünftigen Module sind außerdem zu den bisherigen Mainframe-Typen (SP und Micro Star = MS) voll kompatibel. Die T2000-Plattform bietet somit eine in der Industrie einzigartige Flexibilität und Anpassungsfähigkeit. Anstatt für jede neue Produktlinie in einen neuen Tester zu investieren, lässt sich ein optimal auf die jeweilige Anforderung konfiguriertes Testsystem realisieren, in dem Mainframes, Testköpfe und Module entsprechend kombiniert werden. Durch eine optimierte Nutzung der Testerressourcen werden zudem die Anschaffungskosten minimiert. Mit dem neuen LS Mainframe wird ein weiteres Openstar-konformes Produkt vorgestellt, mit dem sich speziell ICs des Consumer Markets kostengünstig testen lassen. Hierdurch ist es dem Unternehmen erneut gelungen, seinen Kunden eine optimal auf die Anforderungen zugeschnittene Testlösung zu bieten.

EPP 442