Teradyne wird auf der Productronica ein neues In-Circuit-Testsystem (ICT) sowie die dazugehörigen Pinkarten vorstellen. Außerdem werden die ICT-Plattform TestStation und die Pinkartenserie UltraPin II zu sehen sein. Die nicht gemultiplexten analogen und digitalen Pinkarten UltraPin II 121 und UltraPin II 121a erhöhen die Skalierbarkeit der TestStation. Ihre Architektur ermöglicht unbeschränkte Pinzuordnungen für Testapplikationen von kostengünstigen rein anlogen MDA-Anwendungen (Model Driven Architecture) bis hin zum digitalen Hochleistungs-In-Circuit-Test. Sie bietet eine maximale Flexibilität beim Programmieren der Logikpegel von Treibern/Sensoren, Schaltschwellen, Anstiegsraten und Begrenzung des Backdriving. Andere Lösungen müssen hier oft Kompromisse eingehen, was zu unerwarteten Problemen beim Programmieren, der Adaptererstellung und dem Debugging führen kann. Teradynes TestStation-Systeme unterstützen den beliebigen Mix der beiden UltraPin-II-Pinkarten in einem System und erzielen dadurch ein Maximum an Leistungsfähigkeit und Preisflexibilität.
Productronica: A1.335
epp 428
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