JTAG Technologies zeigt auf der electronica neben seinen bekannten Produkten den ProVision dot6-Test. Der IEEE-Standard 1149.6 ist eine wichtige Erweiterung der ursprünglichen 1149.1 Boundary-Scan-Spezifikation, wodurch sich die bislang mit schnellen digitalen Schnittstellen, wie LVDS und AC-gekoppelten Netzen, verbundenen Testbeschränkungen vermeiden lassen. Vor dot6 konnte der Test von solchen Netzen zu fehlerhaften Pass/Fail-Aussagen führen. So wird auf der Basis der Netzliste der Schaltung sowie den BSDLs und Modellen der im Design enthaltenen Chips automatisch ein umfassender Test für derartige Schnittstellen erzeugt. Der Test liefert einen Fehlerbericht mit Fehlerdiagnose, in dem die Fehlerursache anhand von 30 möglichen Fehlertypen genau beschrieben wird. Dabei werden auch Mehrfachfehler erkannt. Die Fehlermeldung kann mittels Visualizer, dem Schaltplan- und Layout-Betrachter des Unternehmens, analysiert werden, wodurch der Bediener eine Darstellung mit farblicher Hervorhebung der Fehler erhält.
electronica, Stand A1.616
EPP 443
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