Keithley gab die Zusammenarbeit mit dem Albany NanoTech Centre der University at Albany – State University of New York (SUNY) bekannt. Ziel ist die gemeinsame Nutzung von Forschungsinformationen und die gemeinsame Arbeit im Bereich der Nanotechnologie und Optoelektronik. Keithley wird in diesem Zusammenhang dem Albany NanoTech Centre ein modernes System zur Bauteilcharakterisierung zur Verfügung stellen. Die Technologie von Keithley ist besonders für die Messungen an Nanometer-Bauteilen geeignet. „Wir erwarten, dass wir durch den Informationsaustausch mit Albany NanoTech viel lernen, was wir dann für die Entwicklung der künftigen Produkte für die Nanotechnologie-Industrie wieder anwenden können“, sagt Mark Hoersten, Vice President Business Manager des Unternehmens. „Die Fähigkeit unserer Industrie trotz der hohen Komplexität genaue Verbindungen und Messungen auf Nano-Ebene durchführen zu können, spielt eine bedeutende Rolle dabei, wie rasch wir diese Innovationen in die Serienproduktion umsetzen können.“
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