microtec erstellte Empfehlungen zur Lagerung sowie zur Verarbeitbarkeit elektronischer Komponenten nach einer bestimmten Lagerzeit. Baugruppen, Geräte und einzelne Bauelemente wurden in Risikoklassen zur Lagerung eingeteilt. Auch zum Alterungsverhalten passiver Bauelemente und Baugruppen wurden Aussagen erstellt. Das zertifizierte und unabhängige Testlabor hat nicht nur in Studien und Einzeluntersuchungen, sondern auch in Produktionstests, Qualifikationen und Analysen Erfahrung. Neben Recherchen und technischer Beratung sind Halbleitertest, Produktqualifikation und Fehleranalyse die Kern-Dienstleistungen. Speziell Burn-In und andere Tests (Umweltsimulationstests) lassen Aussagen zur Lebensdauer elektronischer Bauteile zu. Die Zuverlässigkeit von Baugruppen oder Bauteilen berechnet das Unternehmen mit Hilfe der MTBF(Mean Time Between Failure)-Kalkulation. Ebenso werden die FIT(Failure In Time)-Rate bei Bauteiltests mittels Weibull-Statistik berechnet und die Ausfallmechanismen analysiert.
EPP 441
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