Leistungsfähigeres ATE-Multifunktionssystem

Aeroflex hat die Funktionalität des ATE-Multifunktionssystems der 5800-Serie durch Boundary Scan, Q-Test und ein PXI-Software-Wrappertool erweitert. Die Serie ist eine hochflexible, skalierbare modulare Testumgebung mit hoher Rekonfigurierbarkeit, die den sich ständig wandelnden Anforderungen der Leiterplattenindustrie gerecht wird. Boundary Scan bietet die Grundlage für softwarebasierte Beobachtung und Kontrolle der Boundary-Pins einer JTAG-kompatiblen integrierten Schaltung, was Incircuit-Tests ohne Nadelbett-Vorrichtung ermöglicht. Beim Boundary-Scan-Verfahren wird über vier spezielle als Test Access Port (TAP) bezeichnete Pins auf Bauteile zugegriffen. Mit dem TAP kann man ein einzelnes Bauteil oder durch Verkettung eine Gruppe miteinander verbundener Bauteile testen. Eine typische Boundary-Scan-Teststrategie umfasst gewöhnlich sechs Elemente: Scanpfad-Check, Bauteil-Identifikationscheck, Verbindungstests, bauteilinterne Tests, eingebaute Selbsttest und externe Tests. Der Q-Test ermöglicht das Testen auf Pin-Anschlussfähigkeit von analogen und digitalen Bauteilen samt Verbindungselementen ohne detaillierte Kenntnis des zu prüfenden Bauteils. Das Leistungsmerkmal des Tests umfasst vereinfachte Vektortests und induktive oder kapazitive Signalerfassung für ein breites Anwendungsspektrum, grafischen Benutzeraufbau und flexible Montage der Erkennungsschaltung. Das PXI-Software-Wrappertool integriert schnell und einfach PXI-Karten in die Softwareumgebung ohne .NET-Assemblies. Das Tool kann für die meisten Gerätetreiber einschließlich DLLs verwendet werden. Die 5800-Series ist in den Gehäusetypen Tischgerät, Standmodell und als Gestelleinbaugerät erhältlich, und allen Typen sind 21-Slot-Rack-, Power- und Utility-Cards gemeinsam. Die Instrumentkarten lassen sich mit Industriestandard-Schnittstellen nach Wahl des Benutzers verbinden und mit weiteren Testressourcen integrieren, die nicht im PXI-Format vorliegen.

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