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Lotpastendepots inspizieren

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Lotpastendepots inspizieren

Mirtec stellte auf der Productronica unter anderem sein Inline SPI-System MS-11 vor. Dieses SPI-System verwendet die Moiré Analyse für eine schattenfreie Inspektion sowie das so genannte Phase Stepping Image Processing, um Lotpastendepots auf der Leiterplatte nach dem Druckprozess zu inspizieren. Das MS-11 inspiziert zu wenig oder zu viel Lotpaste, Verformungen, falsche Platzierung und Brückenbildung. Das MS-11 ist mit einer hochauflösenden 2-Megapixel-Kamera für verbesserte Bildqualität und mehr Genauigkeit ausgestattet. Darüber hinaus nutzt das MS-11 die gleiche robuste Plattform wie die MV-7 Serie des Herstellers.

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