Manuelles Testhandling von MEMS und Sensoren

Um Mikrosysteme (MEMS) und Sensoren vollständig testen zu können, müssen auch die physikalischen Signale, beispielsweise magnetische oder optische, präzise und reproduzierbar eingekoppelt beziehungsweise gemessen werden können. Vor dem vollautomatischen Handling besteht jedoch immer wieder die Forderung, MEMS und Sensoren bereits während der Entwicklung oder in der Vorserienfertigung testen zu können. IC-Automation hat aus diesem Grund die Docking-Station entwickelt. Dabei handelt es sich um einen Tischaufbau, in den ein Testbereich, die Versorgungseinheiten und ein PC integriert sind. Das Be- und Entladen der Testaufbauten erfolgt manuell, ansonsten ist die Docking-Station voll kompatibel zum Mikrosystem-Testhandler Leonardo. Für die zu testenden Systeme können also bereits in der Entwicklungsphase vollständige Testaufbauten entwickelt,und die Systeme kostengünstig getestet werden, ohne dass für die spätere Serienfertigung erneut Entwicklungskosten für den Test anfallen. Auch während des späteren Serientests mit Leonardo können mit der Docking-Station Testabläufe optimiert und justiert, Bauteile qualifiziert oder Rückläufer untersucht werden, ohne dass der Serientest am Handler dazu unterbrochen werden muss.