Advantest Corporation, Anbieter von Halbleiter-Testsystemen, stellt mit dem T2000 LJC16 16-Kanal, Low-Jitter-Taktmodul eine Produkterweiterung für die T2000 Testplattform vor. Das LJC16-Modul kombiniert unterschiedliche digitale Takte und analoge Takt/Sinussignale in einem einzigen für High-Multi-Site-Systeme. Durch die immer höheren Ein-/Ausgangs-Geschwindigkeiten (I/O) der heutigen digitalen und analogen ICs, werden die Taktanforderungen beim Test dieser Bauteile immer anspruchsvoller. Um eine möglichst hohe Fertigungsausbeute zu erreichen, werden für den Test von Halbleitern der neuesten Generation folgende Anforderungen gestellt:
- Quelle mit geringem Jitter von unter 500 Femto-Sekunden,
- Taktsignale mit Gigahertz-Geschwindigkeiten,
- programmierbare Tastverhältnisse und
- sehr leistungsfähige Sinussignale als Eingangssignal für A/D-Wandler (ADCs).
Durch den Einsatz des LJC16 Moduls können alle notwendigen Tests mit einem einzigen Tool durchgeführt werden. Dies spart nicht nur Kosten, sondern reduziert auch die Zykluszeiten und ermöglicht eine höhere Testabdeckung mit einem einzigen Modul.
„Mit diesem neuen 3-in-1-Modul wird unsere T2000-Plattform zum wirtschaftlichsten und leistungsfähigsten System für den Test sehr schneller Digital- und Mixed-Signal-Bauteile, wobei es eine höchste Jitter-Performance bietet“, sagte Jay Sakamoto, Senior Vice President der Strategic Business Unit (SBU) des Unternehmens. „Diese Lösung ist kostengünstiger und vielseitiger als andere derzeit verfügbaren Highend-Tester, die mehrere Module benötigen oder unvollständige Testlösungen darstellen, da schnelle digitale Pins und Quellen mit geringem Jitter fehlen.“
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