Advantest und SUSS Microtec stellen eine Testlösung für ein automa- tisches HF-Wafer-Probing mit mehreren Kanälen für bis zu 20 GHz vor. Das System kombiniert den RF Component Analyzer R3860A oder Network Analyzer R3770 von Advantest mit dem halbautomatischen Probesystem P200HF von SUSS Microtec. Eine gemeinsam entwickelte Software ermöglicht einen Setup des automatischen Probesystems für 20 GHz Multi-Port-Bauteile. Dies vereinfacht den Wafertest für unterschiedliche HF-Bauteile, wie Mehrfach-Filtermodule und Mischer. Darüber hinaus lässt sich mit diesem System der Entwicklungsprozess von neuen Produkten beschleunigen sowie die Fertigungskosten durch eine Verbesserung der Fertigungsausbeute und des Testprozesses reduzieren.
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