Hoher Bedienkomfort und volle Leistungsfähigkeit vereinen sich in dem robusten Systemmikroskop DM2500 M von Leica für die industrielle Anwendung. Das solide Metallstativ fängt Schwingungen optimal ab, die in sich geschlossene Auflichtachse schützt vor Staubeintrag. Proben bis zu einer Größe von 100 x 100 mm wie Folien, Wafer oder PCBs und bis zu einer Dicke von 80 mm können mit dem Mikroskop begutachtet werden. Klassische Anwendungen wie Hellfeld, Dunkelfeld sowie der differenzielle Interferenzkontrast (DIC) zur kontrastreichen Abbildung geometrischer und physikalischer Phasenobjekte sind genauso möglich wie der Polarisations- und Fluoreszenzkontrast. Durch die farbliche Markierung der Objektive in Verbindung mit der Farbkodierung der Blendeneinstellung wird das Mikroskop zu einem komfortablen Werkzeug.
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