Leica Microsystems stellt das Leica DM2500 M als Lösung für Applikationen in der Qualitätssicherung und Metallographie vor: Proben bis zu einer Größe von 100 x 100 mm, wie Folien, Wafer oder PCBs, und bis zu einer Dicke von 80 mm können mit dem Systemmikroskop begutachtet werden. Mit seinem umfangreichen Zubehörprogramm und hohem Bedienkomfort eignet sich das robuste Mikroskop für die industrielle Anwendung. Das solide Metallstativ fängt Schwingungen ab, die in sich geschlossene Auflichtachse schützt vor Staubeintrag. Die klassischen Anwendungen wie Hellfeld, Dunkelfeld sowie der differenzielle Interferenzkontrast zur kontrastreichen Abbildung geometrischer und physikalischer Phasenobjekte sind genauso möglich wie der Polarisations- und Fluoreszenzkontrast. Durch die farbliche Markierung der Objektive in Verbindung mit der Farbkodierung der Blendeneinstellung wird das Mikroskop zu einem komfortablen und einfachen Werkzeug.
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