Das Funktionstestsystem Spider von IPE mit In-Circuit-Testfunktionen besteht aus einem 3 HE hohen PXI-Mainframe mit 21 Slots und einem Scanner aus mehreren PXI-Relaiskarten. Um das System offen zu gestalten, wurde die Benutzerplattform aus der Ablaufsteuerung Test Stand und de Programmiersprachen Labview bzw. Labwindows/CVI von National Instruments entwickelt. Für zusätzliche automatische optische Inspektionen lässt sich die Software durch das Bildverarbeitungsprogramm IMAQ-Vision erweitern. In das Testsystem können zudem weitere Komponenten wie Oszilloskop- und Digital I/O-Karten, Lo-gic-Analyser usw. integriert werden.
EPP 253
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Applikationen aus dem Bereich der Leistungselektronik gewinnen immer mehr an Bedeutung. Die Inspektion dieser Applikation lässt sich mit der bewährten Standardtechnologie der 3D-Messtechnik bewerkstelligen.
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