Rund um Test bestückter Leiterplatten

Am 14. und 15. Oktober 2003 veranstaltete Itochu Systech in Düsseldorf seine ersten Technologietage aus dem Bereich Test bestückter Leiterplatten mit Fokus auf den Ausbau der APT-Flying-Probe-Testerserie. In seinem Grußwort gab Geschäftsführer Koichiro Nishikawa den zahlreich erschienenen Teilnehmern zunächst einen kurzen Überblick über das Unternehmen mit seinen einzelnen Produktgruppen, und stellte die Mitarbeiter des Flying-Probe-Team Takaya vor. Anschließend übergab er die Moderation an Boris Opfer, Produktmanager Integrated Circuit Test, der die beiden Tage durch das Programm führte.

Zuerst wurden die neuen Highlights der APT-Software sowie ihre Vorteile für die Anwendung in der Praxis vorgestellt. Besonders positiv bewerteten dabei die Teilnehmer, dass alle Neuerungen, soweit technisch machbar, stets für die komplette APT-Serie, unabhängig des Alters, zur Verfügung gestellt werden. Verdeutlicht wurden die Vorteile wie auch die Anwendungsmöglichkeiten durch praktische Beispiele am aufgestellten Testsystem APT-9401 CE. Auch besteht die Möglichkeit, die APT-Reparaturstation als Teil eines umfassenden Qualitätssicherungssystems zu nutzen. In diesem Falle werden die Daten des Testsystems nicht nur aufgenommen und den Reparaturplätzen zur Verfügung gestellt, sondern es erfolgt eine Regelung des kompletten Fertigungsprozesses, beginnend mit der Anlieferung von Bauteilen bis zur Versendung des Endproduktes. Abgerundet wurde dieser erste Tag durch den Vortrag „Das Itochu Service Plus“, in dem die vielfältigen Serviceleistungen wie garantierte Reaktionszeit und lebenslang freie Software-Updates angesprochen wurden. Ideen von Anwendern, bei der durch minimale Erhöhung der Erstellungs- und Testzeit eine bis zu 20% höhere Erkennung nicht gelöteter IC-Pins erfolgt, werden weiterverfolgt und kostenlos in die Software eingeflochten, so dass alle Anwender davon profitieren können. Eine Abendveranstaltung mit angeregten Diskussionen beendete den ersten Tag. Am zweiten Tag, nach der Begrüßung der neu hinzugekommenen Gäste, folgte ein Vortrag über Boundary-Scan und das Zusammenspiel zu Flying-Probe. Großes Interesse fand neben der anschaulichen Erklärung der Lösung die weltweit einmalige Softwarelösung zur Erkennung doppelt ausgeführter Testschritte Boundary Scan zu Flying Probe und deren Aussparung. Nachfolgend wurde aufgezeigt, dass die Ermittlung der Testabdeckung schon während der Designphase ein weiterer Schritt auf dem Weg, das Endprodukt testtief produzieren zu können und damit fehlerfrei auszuliefern, ist. Die Möglichkeit, die Testabdeckung bei Benutzung verschiedener Testverfahren zu ermitteln, wurde hervorragend bewertet. Somit ist eine Aufwand-Nutzenanalyse schon im Vorfeld der Leiterplattenerstellung möglich. Verdeutlicht wurde dies anhand der Testabdeckung Flying Probe mit und ohne Boundary Scan. Großes Interesse gab es auch bei den Vorträgen Probe Permission – automatische Vergabe zugriffsicherer Kontaktnadeln – und Rapid Test 2000, Software zur drastischen Reduzierung der Testzeit. Beendet wurden die Technologietage, die aus Sicht von Teilnehmern und Veranstalter ein voller Erfolg waren, mit Vorstellung der in der weiteren Produktpalette von Itochu befindlichen Bondsysteme. Eine CD über die Veranstaltung mit den technischen Informationen ist bei Itochu erhältlich.

EPP 405