Der neue Kompakttester CT 250 von Dr. Eschke ist jetzt mit einer USB2-Schnittstelle ausgestattet, die mit 480 MBit/s hohe Übertragungsraten zwischen Tester und PC sicherstellt. Das Gerät bietet 250 MSamples/s für alle Digitalkanäle, 1 GSamples/s analog und maximal 470 x 4 Scanner-Kanäle. Damit werden die Prüfzeiten fast nur noch von den Testsignalen selbst bestimmt, da auch die Auswertung von Tests im PC mit Pentium-4-Prozessoren nach Herstellerangaben kaum noch ins Gewicht fällt. Das System sichert mit maximal 192 Digitalkanälen, 2 Msteps-Testvektoren und variablen Signalpegeln dynamische Funktionstests für komplexe ICs, FPGAs und Boards. Der integrierte Speicher hat eine Kapazität von 16 MByte Fast-SRAM je Digitalmodul und ermöglicht durch Echtzeit-Patternvergleiche bei 250 MSamples/s schnelle Testabläufe und zwei Mio. Testvektoren. Die Tester sind neben einem Einsatz als parametrische Funktionstester für den Halbleitertest auch für den Board-Test als Kombinationstester (Incircuit- und Funktionstest) einsetzbar. Schnelle Impulsmessverfahren sichern dabei für den ICT eine nach Herstellerangaben gute Produktivität.
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