Mit dem Inline-Inspektionssystem S1 trägt modus high-tech electronics dem Bedarf an schneller und fehlerfreier Analyse übergroßer Baugruppen Rechnung. Eine Speziallinse verhindert die Verzerrung von Details der im Scannersystem verarbeiteten Prüfbilder. Das neue AOI-System prüft mit einem Scanbereich von 420 mm x 550 mm Formate bis DIN A2. Große Bauteile können in einem Durchgang inspiziert werden; die Zeiten umständlicher Umbauten sind vorbei. Verfügbar sind Ausführungen für die Inspektion von oben, von unten sowie als Doppelvariante zur gleichzeitigen Inspektion beider Leiterplattenseiten. Die optimierte Scannertechnologie garantiert eine Abtastgeschwindigkeit von bis zu drei Scans pro Minute. Hochauflösende Zeilenkameras ermöglichen die schnelle, vollflächige Erfassung eines Prüflings ohne aufwändiges Achssystem. Das innovative Multi-LED-Beleuchtungssystem leuchtet das Objekt in mehreren Winkeln aus. Durch Verwendung unterschiedlicher LED-Farben werden Höhenkonturen, insbesondere Lötmenisken, im aufgenommenen Bild klar erkannt.
Das System ist mit der patentierten parallaxenfreien Bilderfassung für maßstabsgetreue Abbildungen ohne perspektivische Verzerrungen ausgestattet. Die in intensiver Forschungsarbeit entwickelte Speziallinse konnte so modifiziert werden, dass der Strahlengang absolut parallel auf die CCD-Zeile trifft. In Kombination mit der leistungsstarken Inspektions- bzw. Bildverarbeitungssoftware des Unternehmens erfolgt eine umfangreiche und deutlich präzisere Prüfung verschiedener Produktionsfehler. Durch ein auf die Linse angepasstes Spiegelsystem wird ein parallaxenfreies digitales Bild in die AOI-Software übergeben und dort inspiziert. Da Kamera und Objektiv feststehen, ist das System sehr wartungsarm. Hohe Standzeiten sorgen für einen dauerhaften Vorsprung in der Qualitätssicherung von Produktionsprozessen. Dank hoher Performance bei gleichzeitig attraktivem Preis-Leistungsverhältnis durch die Fertigung mit Standardbauteilen amortisiert sich die Investition in das innovative Inspektionssystem schnell.
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