Keithley hat neue Instrumente für das L-I-V-Testsystem für den Produktionstest von Laserdioden-Chips und -Arrays sowie vollständigen Modulen auf den Markt gebracht. Dazu gehört das Pulsed-Laser-Diode-Test-system 2520, das speziell für die elektrische Charakterisierung von Lasern in Chip, Chip-on-Carrier oder Array-Form entwickelt wurde und im Impulsmodus Tests bis 5 A erlaubt. Zudem sind vier standardmäßige L-I-V-Testsystem-Konfigurationen mit unterschiedlicher Leistung mit einer optionalen TEC-Steuerung (thermoelektrischer Kühler) verfügbar. Des weiteren gibt es das Source-Meter 2400, das die Laserdiode treibt und bei LDMs mit integriertem Modulator als Vorspannungsquelle für den Modulator dient, sowie das Autotuning TEC-Source-Meter 2510-AT, das für den Test und die Steuerung des thermoelektrischen Kühlers der Laserdiode genutzt wird. Abgerundet wird das Programm durch das Kugel-Photometer 2500INT für den Wellenlängenbereich von 500 bis 1700 nm sowie das Dual-Photodiode-Meter 2500 für korrelierende Messungen zwischen dem Ausgang der Laserdiode und dem hinteren Photodioden-Detektor.
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