Mit dem Easy-Test-Handler ETH ist Ipte am Stand von CheckSum in Halle 7A, Stand 421, auf der diesjährigen SMT von 5. bis 7. Mai 2015 in Nürnberg vertreten.
Mit dem System lassen sich Incircuit- oder Funktionstest- sowie Programmierprozesse inline automatisieren. Es eignet sich für den Einsatz mit Einzel-Leiterplatten, Leiterplatten-Nutzen oder entsprechenden Werkstückträgern für Leiterplatten. Es können ein- oder beidseitige Kontaktierungen realisiert werden. Die Kontaktierungsadapter lassen sich einfach und schnell tauschen. Optional kann der Testhandler mit einem Bypass-Bandsegment ausgerüstet werden, um mehrere Testhandler parallel zu betreiben. Dies erlaubt einen kontinuierlichen Produktionsverlauf, so dass der laufende Testvorgang den Produktionsfluss nicht blockiert. Der Bypass kann zudem zur Optimierung der Taktzeit eingesetzt werden.
Der Testhandler ist eine wirtschaftliche Lösung mit geringem Platzbedarf. Er lässt sich einfach in ein automatisiertes SMEMA-kompatibles Testumfeld integrieren und bietet ausreichend Platz für 19 Zoll-Test-Equipment (10 HE). Das integrierte LC-Touch-Display erlaubt den Zugriff auf alle erforderlichen Parameter für die Programmierung der Testabläufe.
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